可测试性设计理论和实践

默认教学计划
133人加入学习
(4人评价)
价格 ¥160.00
教学计划
会员免费学 购买课程
课程介绍

邀请好友注册,还能免费 具体操作见  http://www.eecourse.com/group/9/thread/205

该课程是对可测试设计(DFT)内容的一个系统化的介绍。通过对该课程的学习,学员不仅能对DFT的概念及理论有系统的认识,更重要的是通过课堂内容及实验的讲解,可以对DFT所涉及的问题有一定的分析和解决能力。

课程大纲

1.  VLSI test

2.  Fault model

3.  ATPG

4.  Fault simulation

4.  Scan

5.  JTAG

6.  Logic BIST

7.  Test compression

8.  Memory test

适合人群
  • 本课程适合于使用数字电路进行科研和芯片设计的学生和工程师,也适合于有志于从事数字芯片设计工作,期望进入数字芯片设计领域的相关人员。参加学习的学员可以是零基础的理工科本科生或研究生。

授课教师

高级工程师

课程特色

视频(9)

学员动态

longever 开始学习 DFT_07
longever 开始学习 DFT_05
longever 开始学习 DFT_04
longever 开始学习 DFT_06
longever 完成了 DFT_03