可测试性设计理论和实践 - DFT

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课程介绍

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该课程是对可测试设计(DFT)内容的一个系统化的介绍。通过对该课程的学习,学员不仅能对DFT的概念及理论有系统的认识,更重要的是通过课堂内容及实验的讲解,可以对DFT所涉及的问题有一定的分析和解决能力。学习完本课程,可以承担数字电路工程的DFT设计和验证等相关工作,是DFT设计工程师必须掌握的基本技能。

课程大纲:

1.  VLSI test

2.  Fault model

3.  ATPG

4.  Fault simulation

5.  Scan

6.  JTAG

7.  Logic BIST

8.  Test compression

9.  Memory test

课程目标
  • 本课程适合于使用DFT技术进行数字电路和系统科研和芯片设计的学生和工程师,也适合于有志于从事数字芯片设计工作,期望进入数字芯片设计领域的相关人员。参加学习的学员可以是零基础的理工科本科生或研究生。

授课教师

高级工程师

课程特色

视频(17)

学员动态

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xuhuan0612 开始学习 DFT_08
炜仔mjw 开始学习 DFT_01
炜仔mjw 加入学习
dillonhunter 加入学习