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《DFT设计工程师就业班》1911期
第50任务： Tessent Scan and ATPG--3. Fault Grouping 01
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任务列表
第1任务： 数字IC设计流程01
第2任务： 数字IC设计流程02
第3任务： Linux操作系统基本操作01
第4任务： Linux操作系统基本操作02
第5任务： GVIM文本编辑工具的基本操作01
第6任务： GVIM文本编辑工具的基本操作02
第7任务： GvIM正则表达式01
第8任务： GVIM正则表达式02
第9任务： 逻辑仿真工具QusetaSim的使用01
第10任务： 逻辑仿真工具QuestaSim的使用02
第11任务： 数字集成电路基础01
第12任务： 数字集成电路基础02
第13任务： 经典组合和时序电路的Verilog RTL设计
第14任务： 经典组合和时序电路的RTL设计01
第15任务： 有限状态机的Verilog设计实现01
第16任务： 有限状态机的Verilog设计实现02
第17任务： 同步FIFO和异步FIFO的设计
第18任务： 同步FIFO和异步FIFO设计02
第19任务： 数字IC设计基础理论
第20任务： DFT概述和ATE测试
第21任务： Design Compiler 之 Scan testing 01
第22任务： Design Compiler之Scan Testing
第23任务： DFT Compiler -- DFT Compiler Flow
第24任务： DFT Compiler -- DFT Compiler Setup
第25任务： DFT Compiler -- Test protocol 01
第26任务： DFT Compiler -- Test Protocol 02
第27任务： DFT Compiler -- Test Protocol 03
第28任务： DFT Compiler -- DFT DRC 01
第29任务： DFT Compiler--DFT DRC 02
第30任务： DFT Compiler--DFT DRC 03
第31任务： DFT Compiler--DFT DRC GUI Debug 01
第32任务： DFT Compiler --DFT DRC GUI Debug 02
第33任务： DFTC--lab3
第34任务： DFT Compiler--lab4
第35任务： DFT Compiler--DFT DRC FIX 01
第36任务： DFT Compiler--DFT DRC 02
第37任务： DFT Compiler--Top Down Scan Chain 01
第38任务： DFT Compiler--Top Down Scan Chain 02
第39任务： DFT Compiler--Top Down Scan Chain 03
第40任务： DFT Compiler--Top Down Scan Chain 04
第41任务： DFT Compiler-- Export
第42任务： DFT Compiler--lab5 lab6
第43任务： DFT Compiler--lab7
第44任务： DFT Compiler--lab8 lab9
第45任务： DFT Compiler--问题答疑
第46任务： Tessent Scan and ATPG--1. Basic Concept 01
第47任务： Tessent Scan and ATPG--1.Basic Concept 02
第48任务： Tessent Scan and ATPG--2. ATPG Flow 01
第49任务： Tessent Scan and ATPG--2. ATPG Flow 02
第50任务： Tessent Scan and ATPG--3. Fault Grouping 01
第51任务： Tessent Scan and ATPG --3. Fault Grouping 02
第52任务： Tessent Scan and ATPG--4.Test Pattern Types
第53任务： Tessent Scan and ATPG--4. Test Pattern Types 02
第54任务： Tessent Scan and ATPG -- 4.Test Pattern Types 03
第55任务： Tessent Scan and ATPG--lab2
第56任务： Tessent Scan and ATPG--5. At-Speed pats and OCC
第57任务： Tessent Scan and ATPG--5.At-Speed pats and OCC 02
第58任务： Tessent Scan and ATPG--lab3
第59任务： Tessent Scan and ATPG--lab4
第60任务： Tessent Scan and ATPG--6.DRC rules 01
第61任务： Tessent Scan and ATPG--6.DRC rules 02
第62任务： Tessent Scan and ATPG--7.Debug Low Coverage 01
第63任务： Tessent Scan and ATPG--8.Simulation Mismatch 01
第64任务： Tessent Scan and ATPG--8.Simulation Mismatch 02
第65任务： Tessent Scan and ATPG--8.Simulation Mismatch 03
第66任务： Tessent Scan and ATPG--9.Compression 01
第67任务： Tessent Scan and ATPG--9.Compression 02
第68任务： Tessent Scan and ATPG--lab5
第69任务： Tessent Scan and ATPG--Lab6
第70任务： Tessent Scan and ATPG--10.Additional Test
第71任务： Tessent Scan and ATPG--lab7
第72任务： Tessent Scan and ATPG--lab8
第73任务： Tessent IJTAG--1. IEEE 1687 Introduction
第74任务： Tessent IJTAG--2.Tessent IJTAG Overview
第75任务： Tessent MBIST--1.Tessent MBIST introduction 01
第76任务： Tessent MBIST--1.Tessent MBIST Introduction 02
第77任务： Tessent MBIST--2.MBIST Shell Flow Overview 01
第78任务： Tessent MBIST--Lab2
第79任务： Tessent MBIST--3.Tessent MBIST clocks
第80任务： Tessent MBIST--4.Tessent MBIST Specs
第81任务： Tessent MBIST--5. Tessent Boundary Scan
第82任务： Tessent MBIST--Lab3
第83任务： Tessent MBIST-- Lab5
第84任务： Tessent IJTAG--3. Basic IJTAG Flow
第85任务： Tessent IJTAG--4. Advanced ICL/PDL Commands
第86任务： Tessent MBIST--6.MBIST Debug Patterns
第87任务： Tessent MBIST-4.Memory Repair
第88任务： 项目实训-Basic-tcl
第89任务： 项目实训-Basic tcl 02
第90任务： 项目实训-复位逻辑 01
第91任务： 项目实训-Liberty
第92任务： 项目实训-Liberty 02
第93任务： 项目实训-芯片产品全周期介绍
第94任务： 项目实训-SOC项目-DFT设计
第95任务： 项目实训-SOC项目-DFT设计 02
第96任务： 项目实训-implement-PINMUX设计实现01
第97任务： 项目实训-implement-PINMUX设计02
第98任务： 项目实训-implement-AHB_CLK_RST
第99任务： 项目实训-implement-AHB_CLK_RST 02
第100任务： 项目实训-implement-Lock up Latch
第101任务： 项目实训-implement-Lock up Latch
第102任务： 项目实训-implement-Clock Gating 01
第103任务： 项目实训-implement-Clock Gating 02
第104任务： 项目实训-implement-Lab1_DFT_Compiler 01
第105任务： 项目实训--implement-Lab1_DFT Compiler 02
第106任务： 项目实训-implement-Lab2_Tmax ATPG 01
第107任务： 项目实训-implement-Lab3_Tessent ATPG
第108任务： DFT简历+答疑
