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数字DFT设计 青英课
第32任务： Tessent Scan and ATPG-Additional pattern types 01
查看课程
任务列表
第1任务： 数字IC设计流程01
第2任务： 数字IC设计流程02
第3任务： DFT课程概述01
第4任务： DFT课程概述02
第5任务： 数字IC设计基础理论
第6任务： DFT概述和ATE测试
第7任务： DFTC-Scan Testing 01
第8任务： DFTC-Scan Testing 02
第9任务： DFTC-DFT Compiler Flow
第10任务： DFTC-DFT Compiler Setup
第11任务： DFTC-Test Protocol 01
第12任务： DFTC-Test Protocol 02
第13任务： DFTC-Test Protocol 03
第14任务： DFTC-DFT DRC 01
第15任务： DFTC-DFT DRC 02
第16任务： DFTC-DFT DRC 03
第17任务： DFTC-DFT DRC 04
第18任务： DFTC-DFT DRC GUI DEBUG
第19任务： DFTC-DFT DRC Fixing 01
第20任务： DFTC-DFT DRC Fixing 02
第21任务： DFTC-Top Down Scan Chain 01
第22任务： DFTC-Top Down Scan Chain 02
第23任务： DFTC-Top Down Scan Chain 03
第24任务： DFTC-Top Down Scan Chain 04
第25任务： DFTC-Export
第26任务： Tessent Scan and ATPG-Basic concept 01
第27任务： Tessent Scan and ATPG-Basic concept 02
第28任务： Tessent Scan and ATPG-Flow 01
第29任务： Tessent Scan and ATPG-Flow 02
第30任务： Tessent Scan and ATPG-Fault Grouping 01
第31任务： Tessent Scan and ATPG-Fault Grouping 02
第32任务： Tessent Scan and ATPG-Additional pattern types 01
第33任务： Tessent Scan and ATPG-Additional pattern types 02
第34任务： Tessent Scan and ATPG-Additional pattern types 03
第35任务： Tessent Scan and ATPG-At_Speed and OCC 01
第36任务： Tessent Scan and ATPG-At-Speed and OCC 02
第37任务： Tessent Scan and ATPG-DRC Rules 01
第38任务： Tessent Scan and ATPG-DRC Rules 02
第39任务： Tessent Scan and ATPG-Troubleshoot Low Coverage 01
第40任务： Tessent Scan and ATPG-Troubleshoot Low Coverage 02
第41任务： Tessent Scan and ATPG-Simulation Mismatch 01
第42任务： Tessent Scan and ATPG-Simulation Mismatch 02
第43任务： Tessent Scan and ATPG-Compression 01
第44任务： Tessent Scan and ATPG-Compression 02
第45任务： Tessent Scan and ATPG-Additional Test Topic 01
第46任务： Tessent Scan and ATPG-Additional Test Topic 02
第47任务： Tessent IJIAG-IEEE1687 Introduction
第48任务： Tessent IJTAG-Overview
第49任务： Tessent MBIST-Introduction 01
第50任务： Tessent MBIST-Introduction 02
第51任务： Tessent MBIST-Shell Flow Overview
第52任务： Tessent MBIST-Clocks and Clock Drc
第53任务： Tessent MBIST-MBIST Shell Specs
第54任务： Tessent MBIST-Boundary scan
第55任务： Tessent MBIST-Debug patterns
第56任务： Tessent MBIST-Memory Repair 01
第57任务： Tessent MBIST-Memory Repair 02
第58任务： Tessent IJTAG-Basic IJTAG Flow
